1. An introduction to X-ray crystallography /
المؤلف: M.M. Woolfson.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: X-ray crystallography.,Crystallography, X-Ray.,X-Ray Diffraction.,Radiocristallographie.,Kristall,Kristall.,Radiocristallographie.,Röntgenstrukturanalyse,Röntgenstrukturanalyse.,X-ray crystallography.,X-ray crystallography.
رده :
QD945
.
W58
1997
2. Calculated X-ray powder-diffraction patterns; a description of the technique and a list of example
المؤلف: Jahanbagloo, Iraj C
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Crystallography,، X-rays-- Diffraction,، X-ray Crystallography
رده :
QD
905
.
J3
3. Crystals and X-rays
المؤلف: Lipson, H. S.
المکتبة: المکتبه المرکزيه ومرکز التوثیق بجامعة الشهید باهنر فی کرمان (کرمان)
موضوع: ، X-ray crystallography,، Proteins,، Crystallography,، X-rays - Diffraction,، Proteins
رده :
QD
945
.
L5
1970
4. Defect and microstructure analysis by diffraction
المؤلف: Snyder, Robert L.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Defects -- Analysis ، Crystals,، Diffraction,، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
S58
1999
5. Defect and microstructure analysis by diffraction
المؤلف: / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala, and Hans J. Bunge
المکتبة: المكتبة المركزية مركز التوثيق وتزويد المصادر العلمية (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Crystals--Defects--Analysis,Diffraction.,X-ray crystallography.
رده :
QD945
.
S58
1999
6. Defect and microstructure analysis by diffraction
المؤلف: Snyder, R. L. )Robert L.(
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، Crystals-- Defects-- Analysis,، Diffraction,، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
S58
1999
7. Defect and microstructure analysis by diffraction
المؤلف: Snyder, R. L. )Robert L.(
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: Defects Analysis ، Crystals,، Diffraction,، X-ray crystallography
رده :
QD
945
.
S58
1999
8. Defect and microstructure analysis by diffraction
المؤلف: / Robert L. Snyder, Jaroslav Fiala and Hans J. Nunge
المکتبة: المكتبة المركزية بجامعة تبريز و مركز التوثيق والنشر (أذربایجان الشرقیة)
موضوع: Crystals - Defects - Analysis,Diffraction,X-ray crystallography
رده :
QD945
.
S58
1999
9. Diffraction methods
المؤلف: WORMALD,JOHN ROGER
المکتبة: (طهران)
موضوع: X-RAY CRYSTALLOGRAPHY , X-RAYS-DIFFRACTION , NEUTRONS DIFFRACTION
رده :
QD
945
.
W63
10. Early days of X-ray crystallography /
المؤلف: André Authier, Institut de Minéralogie et de Physique des Milieux Condensés, Université P. et M. Curie, Paris, France.
المکتبة: کتابخانه مطالعات اسلامی به زبان های اروپایی (قم)
موضوع: Discoveries in science.,Lattice theory-- History.,X-ray crystallography-- History.,X-rays-- Diffraction.
رده :
QD945
.
A798
2013
11. Early papers on diffraction of X-rays by crystals
المؤلف: Bijvoet, J. M. )Johannes Martin(
المکتبة: (طهران)
موضوع: ، X-ray crystallography,Diffraction ، X-rays
رده :
QD
945
.
B46
1969
12. Fundamentals of powder diffraction and structural
المؤلف: Pecharsky, Vitalij K.
المکتبة: کتابخانه مرکز پژوهش متالورژی رازی (طهران)
موضوع: ، X-rays- Diffraction- Measurement,، Powders- Optical properties- Measurement,، X-ray crystallography
رده :
QC
482
.
D5
P43
2005
13. Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials
المؤلف: / by Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه شهيد چمران (خوزستان)
موضوع: X-rays--Diffraction--Measurement,Powders--Optical properties--Measurement,X-ray crystallography.
رده :
QC
,
482
,.
D5
,
P43
,
2005
14. Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials]CD[
المؤلف: Pecharsky, Vitalij K.,by Vitalij K. Pecharsky, Peter Y. Zavalij
المکتبة: كتابخانه و مركز اسناد دانشگاه كردستان (کردستان)
موضوع: Diffraction Measurement ، X-rays,Optical properties Measurement ، Powders,، X-ray crystallography
رده :
CD
1757-29
15. Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials
المؤلف: / Vitalij K. Pecharsky and Peter Y. Zavalij
المکتبة: المكتبة المركزية ومركز الوثائق بجامعة آراك (مرکزي)
موضوع: Powders -- Optical properties -- Measurement,X-rays -- Diffraction -- Measurement,X-ray crystallography
رده :
548
.
83
P365f
E
.
2
16. Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials
المؤلف: Pecharsky, Vitalij K.
المکتبة: کتابخانه مرکزی و مرکز اطلاع رسانی دانشگاه فردوسی مشهد (خراسان رضوی)
موضوع: Optical properties -- Measurement ، Powders,Diffraction -- Measurement ، X-rays,، X-ray crystallography
رده :
QC
482
.
D5
P43
2009
17. Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials
المؤلف:
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: ray crystallography ; -rays ; Diffraction ; Measurement ; Powders ; Optical properties ; Measurement ; X-X
18. Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials
المؤلف: Pecharsky, Vitalij K.
المکتبة: (طهران)
موضوع: Optical properties -- Measurement ، Powders,Measurement ، X-rays -- Diffraction,، X-ray crystallography
رده :
QC
482
.
D5P42
2009
19. Grundlagen und Anwendung der Rontgen-Feinstruktur-Anlyse
المؤلف: Neff, Hans
المکتبة: كتابخانه مركزی دانشگاه صنعتی شریف (طهران)
موضوع: ، X-rays-- Diffraction,، X-ray crystallography
رده :
QC
482
.
N43
20. High resolution X-ray diffractometry and topography
المؤلف: / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
المکتبة: كتابخانه مركزي و مركز اسناد دانشگاه مازندران (مازندران)
موضوع: X-ray crystallography.,X-rays- Diffraction.,Crystals
رده :
QD945
.
B683
1998